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2018年5月30日 (水)

NECのAIツール”RAPID機械学習”に”良品のみ”データで不良品を見極める機能が追加に

NEC the WISEというNECが作るAIツール群の一つ”RAPID機械学習”という製品に、良品の写真やデータだけで学習して”不良品”を見極められる機能が追加されたそうです。

NEC、良品データの学習のみで不良品を検出するAIを製品化 (2018年5月8日): プレスリリース | NEC

今どきの工場は、ほぼ99%以上が”良品”が流れており、数千個、数万個に1つだけ不良品が流れてくる、というケースがほとんど。

実は私もそういう現場にちょっとかかわったのですが、ディープラーニングによる画像認識で”良品”と”不良品”を両方学習させようにも、”不良品”の量が少なすぎて学習データが集まらない、という問題が多いようです。

まあ、日本の工場なら、不良品が出にくいように長年に渡り創意工夫され続けてきましたから、当然といえば当然なのですが。でも、この”不良品”の少なさが逆に機械学習を活用する上で問題になっているというのも何とも皮肉な話です。

どうやら”良品のみ”で学習する機能、”1-Class SVM”というのを使っているようです。私もちょっと勉強中ですが、こいつを使って不良品の教師データなしで学習することができます。

このRAPID機械学習、お値段は375万円~(画像版、マッチング版の2種類、オプション設定あり、年間経費も別途必要)。高いとみるか、安いとみるかは現場のひっ迫度次第ですね。

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